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先进微纳(非正式版)
2022-06-10 09:50      审核人:

集成电路科学与工程学

 


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P   A   R   T                                

进微纳器件实验室

 

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底处理设备

 

 

 

 

 


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

半导体兆声清洗系

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 SFQ-1006T

 

 


 

 

 

 

 

 

Strasbaugh 6-EC模型是用于化学机械平面化(CMP)研  ,失效分析和小批量生产的经济工具。它的半自动操 可通过彩色触摸屏图形用户界面(GUI)进行编程,以 实现可重且精确的过程控制。

 

设备号为:nSpire-6EC                                                  6-EC标配一台泥浆泵,另一台可选。较小的尺寸(48英   x 37英寸x 72英寸)提供了带有垫块调节功能的最小的   立系统之一。该系统可用于4英寸,6英寸或8英寸晶圆。 抛光采用罗门哈斯公司生产的IC1000/Suba IV抛光垫。    厂家:美国Strasbaugh公司


 

 

 

 

 

生长设备

 

 

 

 

 


 

 

 

超高真空磁控溅射系

 

控溅射是物理气相沉积 (Physical Vapor Deposit ionPVD) 种。一般的溅射法可被用于制备金属、半导体、绝缘体等多 ,且具有设备简单、易于控制、镀膜面积大和附着力强等优 

 

型号:DE500

DE500 Sputter 磁控溅射仪极限真空度可达≤ 5.0×10-8Torr 100小时后的真空度可保持在7.5E-2Torr,工作气压稳定性 优于0.25%,溅射气压下观察不到压力漂移。直流起辉气压低至 0.7mTorr, 直流和射频均可保持在该气压下辉光稳定工作,直 功率可低于10W,并可保持辉光稳定工作。

厂家:美国德仪科技有限公


 

 

 

子层沉积系统SI PEALD LL适用于小批量生产、研 发、以及高。可沉积几纳米厚的超薄膜,有出色的 均匀性、对3D结构有非常好的覆盖一致性。在工艺循 环中、向真反应腔内分步骤地增加前驱体,从而精 控制膜厚和膜特性。ALD的特性特别适合半导体 工程、微电系统MEMS和其他纳米科技的应用。

SI PEALD LL 采用灵活的系统结构,适用于广泛的 沉积模式和工艺。可升级配置更多的前驱体源、等 子体源、在线监测和其他选项。SI PEALD LL可在 同种类和尺寸的衬底上通过热ALD 和等离子增强 ALD方式沉积氧物、氮化物、金属和其他材料。

产厂家:德国SENTECH


 

 

功能磁控与离子束联合溅射沉积系统

 

 

 

 

 

 

备型号为:K08-052

用于制备A量级的AlFeTiCuNi等金属膜,纳米

级的SiO2、V2O5、HfO2、NiOWO3、TiO2等半导体膜;

在保持真空的状态下,依次进行3种不同材料的镀膜,

膜致密,均匀性好。

家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司

 


 

 

 

 


 

 

 

 

 

超高真空多功能溅射设备

 

 

主要用于纳米级的单层及多层功能膜、各种硬质膜、金属膜、

导体膜、介质膜、铁磁膜和磁性薄膜等的研究开发,广泛

用于半导体行业、微电子及新材料领域。

 

 

 

号:JGP 450型

系统极限真空可以达到主溅射室:  2×10-5Pa,进样室:

6.6×10-4Pa。衬底基片:样品库内可放置6片基片

(Ф30mm) ,为水冷加热转盘,可加偏压。

家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司


 

高真空多功能磁控溅射设备

 

超高真空多功能磁控溅射设备可用于在超高真空背景下

入高纯氩气,采用磁控溅射方式制备单层及功能膜、

硬质膜、金属膜、半导体膜及多元合金膜等。

 

 

 

型号:JGP500D1

空系统采用FB600涡轮分子泵+2XZ-8机械泵抽气;真

24小时连续烘烤后,极限真空≤6.6 ×10-5pa

统从大气开始抽气,在≤30分钟内,其真空度≤6.6×

104 pa;停泵关机12小时后,系统真空度≤5pa,其真

空度采用DL-9复合真空计测量

家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司

 


 

 

 

 

 

 

 

电子束蒸发系统

 

 

 

 

 

 

 

厂家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司


 

 

 

 

 

 

器件加工设

 

 

 

 


 

子束曝光  (electron beam lithography)  指使用电子束在 表面上制造图样的工艺,   是光刻技术的延伸应用。  

束曝光系统  (electron beam lithography system)   即用于 实现电子束曝光的系统。  电子束曝光在半导体工业中被

广泛使用于研究下一代超大规模集成电路。

号:  e-Line plus

 

 

eLINE Plus系统希将电子束光刻系统与开放平台相结合, 单个工具中实现更多可选的纳米加工工艺和技术。

完全集成的纳米操纵器,  例如纳米探测,   用于FEBIP工艺

的气体注入系统以及一 系列其他选项,   可补充毫不妥协

的光系统体系结构,  使eLINE Plus当前成为世界上最通    最独特的纳米工程EBL系统。

家:   德国Raith


 

 

 

PlasmaPro 80是一种结构紧凑 、小尺寸且使用方便 的直开式系统,可以提供多种刻蚀和沉积的解决方案。

它易于放置,便于使用,且能确保工艺性能。直开式

设计实现快速晶圆装卸,是研究和小批量生产的理

想选择。它通过优化的电极冷却和出色的衬底温度控

制来实现高质量的工艺。

:

· III-V族材料刻蚀工艺

· 硅Bosch和超低温刻蚀工艺

· 类金刚石 (DLC) 沉积

· 二氧化硅和石英刻蚀

· 用于高亮度LED生产的硬掩模的刻蚀

生产厂家:英国牛津仪器


 

 

 

 

面光刻机

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


 

热退火是用各种热辐照源,直接照射在样品表面上,

迅速将样品加热至700~1200左右在几秒~几十秒的时

间内完成退火。它可以使用较高的退火温度,这有利

高注入杂质的激活率与迁移率,瞬态退火可以减少注

质的再分布,形成陡峭的杂质分布或突变结,另外

当退温度要求不十分高时,样品表面无须用介质膜保

,简化了工艺。

设备型号:RTP-500

度范围:在150--1300,升温速率:在0 .001-

220C/s可编程温度曲线存储500 条以上, 每条曲线包括

50段以上, 温度设定范围 100-1300 C , 时间设定范围1-

30000 秒,能够实时温度曲线显示及存储功能。拥有双 环温度控制, 稳态温度稳定性±21000连续工作

>1小时。

家:北京东之星应用物理研究所


 

 

 

 

 

 

芯片光电性能分析测试设

 


 

 

 

 

 

 

子力显微镜  ( Atomic Force Microscopy,  AFM)  ,   一种可  用来究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。 它通检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极  弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。

 

号:  5600LS型

安捷伦大样品台原子力显微镜可以快速、  准确地实现针尖  定位和样品定位。  高精度的马达驱动能自动准确定位到特  区域,   同时带有记忆功能,   可以自动迅速而准确地回到  原来每个品表面成像的位置,  便于进行更多的深入研究。

家:   美国安捷伦agilent公司


 

 

 

 

 

薄膜厚度测量仪适用于塑料薄膜量程范围内  材料的精确厚度测量。薄膜等包装材料厚度  是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。   膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉  度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。

 

号:   ST2000-DLXn

号薄膜厚度测量仪测量快速,操作简便, 非接触和非破坏性以及极好的重复性和再 现性能基于Windows的用户友好界面进行操 ,且每个视图都有打印功能和数据保存功    

家:韩国科美仪器(K-MAC)

 


 

 

 

 

拉曼光谱仪主要适用于科研院所  高等院校物理和化

实验室、  生物及医学领域等光学方面,  研究物质成

分的判定与确认;  该仪器以其结构简单、  操作简便、

快速高效准确,   以低波数测量能力著称;   采用共

光路设计以获得更高分辨率,   可对样品表面进行

um的微区检测,   也可用此进行显微影像测量。

 

 

号:   invia系列0618-02

Invia系列能检测微弱信号,   快速获取数据,   能获得高

质量高辨率的光谱,   高效的光学设计可为提供最佳

拉曼数据,   包括微小的材料痕迹和大体积的痕迹。

家:   英国雷尼绍Renishaw


 

 

 

 

 

相显微镜或是数码金相显微镜是将光学显微  技术、光电转换技术、计算机图像处理技术  完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品, 以在计算机上很方便地观察金相图像,从而  金相图谱进行分析,评级等以及对图片进行  出、打印。

 

号:XHC-SV1

XHC-SV1型数码正置金相显微镜可广泛应用     各个高性能要求的研究观测,尤其带有微分  干涉能,被广泛应用于太阳能电池硅片检测、 FPD、电路封装、半导体晶圆、电路基板、材

料、精密模具的检测。

 

家:北京东方华测科学技术中心


 

 

 

 

 

整的低温真空探针台测试系统,广泛应用于半导体工

(芯片、晶片、封装器件)、MEMS、超导、电子学、

铁电子学、物理学和 材料学等领域。

 

 

 

型号ST-500

ST-500系列探针台利用液氦或液氮快速制冷,为晶片、

器件和材料(薄膜、纳米线、纳米管、石墨烯、拓扑

体、超导材料、铁电材料等)提供便利真空和低温测

试条件,先进的减

技术保证了样品位置的稳定性。

:美国Janis公司


 

 

导体参数分析仪(器件分析仪)是一种集多种测量

和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-

(IV)和电容测量(C -V(电容 - 电压)、C-F(

-频率)以及 C-t(电容 - 时间)测量),并 速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导   参数测试。

 

号:   B1500

电流电压分析仪系列的Keysight B1500A提供

广泛的测量功能,可覆盖半导体材料和器件,有

/无源组件或几乎任何其他类型的电子设备的电气

特性和评估,并且具有很强的测量可靠性和效率

家:美国安捷伦agilent


 

 

 

 

面轮廓仪