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集成电路科学与工程学院 |
P A R T
先进微纳器件实验室
正 / 因 / 为 / 年 / 轻 / 所 / 以 / 勇 / 往 / 直 / 前 !
衬底处理设备
Strasbaugh 6-EC模型是用于化学机械平面化(CMP)研 究,失效分析和小批量生产的经济工具。它的半自动操 作可通过彩色触摸屏图形用户界面(GUI)进行编程,以 实现可重复且精确的过程控制。
设备型号为:nSpire-6EC 6-EC标配一台泥浆泵,另一台可选。较小的尺寸(48英 寸x 37英寸x 72英寸)提供了带有垫块调节功能的最小的 独立系统之一。该系统可用于4英寸,6英寸或8英寸晶圆。 抛光垫采用罗门哈斯公司生产的IC1000/Suba IV抛光垫。 厂家:美国Strasbaugh公司
薄膜生长设备
超高真空磁控溅射系统
磁控溅射是物理气相沉积 (Physical Vapor Deposit ion,PVD) 的一种。一般的溅射法可被用于制备金属、半导体、绝缘体等多 材料,且具有设备简单、易于控制、镀膜面积大和附着力强等优 点。
型号:DE500
DE500 Sputter 磁控溅射仪极限真空度可达≤ 5.0×10-8Torr, 关机100小时后的真空度可保持在7.5E-2Torr,工作气压稳定性 优于0.25%,溅射气压下观察不到压力漂移。直流起辉气压低至 0.7mTorr, 直流和射频均可保持在该气压下辉光稳定工作,直流 起辉功率可低于10W,并可保持辉光稳定工作。
厂家:美国德仪科技有限公司

原子层沉积系统SI PEALD LL适用于小批量生产、研 发、以及高校。可沉积几纳米厚的超薄膜,有出色的 均匀性、对3D结构有非常好的覆盖一致性。在工艺循 环中、向真空反应腔内分步骤地增加前驱体,从而精 确地控制膜厚和膜特性。ALD的特性特别适合半导体 工程、微机电系统MEMS和其他纳米科技的应用。
SI PEALD LL 采用灵活的系统结构,适用于广泛的 沉积模式和工艺。它可升级配置更多的前驱体源、等 离子体源、在线监测和其他选项。SI PEALD LL可在 不同种类和尺寸的衬底上通过热ALD 和等离子增强 ALD方式沉积氧化物、氮化物、金属和其他材料。
生产厂家:德国SENTECH
 
多功能磁控与离子束联合溅射沉积系统
设备型号为:K08-052 可用于制备A量级的Al、Fe、Ti、Cu、Ni等金属膜,纳米 量级的SiO2、V2O5、HfO2、NiO、WO3、TiO2等半导体膜; 可以在保持真空的状态下,依次进行3种不同材料的镀膜, 薄膜致密,均匀性好。 厂家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司 |
超高真空多功能溅射设备
主要用于纳米级的单层及多层功能膜、各种硬质膜、金属膜、
半导体膜、介质膜、铁磁膜和磁性薄膜等的研究开发,广泛
应用于半导体行业、微电子及新材料领域。
型号:JGP 450型
系统极限真空可以达到主溅射室: 2×10-5Pa,进样室:
6.6×10-4Pa。衬底基片:样品库内可放置6片基片
(Ф30mm) ,为水冷加热转盘,可加偏压。
厂家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司

超高真空多功能磁控溅射设备 超高真空多功能磁控溅射设备可用于在超高真空背景下,
充入高纯氩气,采用磁控溅射方式制备单层及功能膜、 各种硬质膜、金属膜、半导体膜及多元合金膜等。 型号:JGP500D1 真空系统采用FB600涡轮分子泵+2XZ-8机械泵抽气;真 空室经24小时连续烘烤后,极限真空≤6.6 ×10-5pa; 系统从大气开始抽气,在≤30分钟内,其真空度≤6.6× 10-4 pa;停泵关机12小时后,系统真空度≤5pa,其真 空度采用DL-9复合真空计测量。 厂家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司 |


电子束蒸发系统
厂家:中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司
器件加工设备

电子束曝光 (electron beam lithography) 指使用电子束在 表面上制造图样的工艺, 是光刻技术的延伸应用。 电子
束曝光系统 (electron beam lithography system) 即用于 实现电子束曝光的系统。 电子束曝光在半导体工业中被
广泛使用于研究下一代超大规模集成电路。
型号: e-Line plus
eLINE Plus系统希望将电子束光刻系统与开放平台相结合, 以在单个工具中实现更多可选的纳米加工工艺和技术。
完全集成的纳米操纵器, 例如纳米探测, 用于FEBIP工艺
的气体注入系统以及一 系列其他选项, 可补充毫不妥协
的光刻系统体系结构, 使eLINE Plus当前成为世界上最通 用, 最独特的纳米工程EBL系统。
厂家: 德国Raith

PlasmaPro 80是一种结构紧凑 、小尺寸且使用方便 的直开式系统,可以提供多种刻蚀和沉积的解决方案。
它易于放置,便于使用,且能确保工艺性能。直开式
设计可实现快速晶圆装卸,是研究和小批量生产的理
想选择。它通过优化的电极冷却和出色的衬底温度控
制来实现高质量的工艺。
应用 :
· III-V族材料刻蚀工艺
· 硅Bosch和超低温刻蚀工艺
· 类金刚石 (DLC) 沉积
· 二氧化硅和石英刻蚀
· 用于高亮度LED生产的硬掩模的刻蚀
生产厂家:英国牛津仪器

快速热退火是用各种热辐照源,直接照射在样品表面上,
迅速将样品加热至700~1200℃左右在几秒~几十秒的时
间内完成退火。它可以使用较高的退火温度,这有利于
提高注入杂质的激活率与迁移率,瞬态退火可以减少注
入杂质的再分布,形成陡峭的杂质分布或突变结,另外
当退火温度要求不十分高时,样品表面无须用介质膜保
护,简化了工艺。
设备型号:RTP-500
温度范围:在150℃--1300℃,升温速率:在0 .001-
220C/s,可编程温度曲线存储500 条以上, 每条曲线包括
50段以上, 温度设定范围 100-1300 C , 时间设定范围1-
30000 秒,能够实时温度曲线显示及存储功能。拥有双 闭环温度控制, 稳态温度稳定性±2℃,1000℃连续工作
>1小时。
厂家:北京东之星应用物理研究所
芯片光电性能分析测试设备


原子力显微镜 ( Atomic Force Microscopy, AFM) , 一种可 用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。 它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极 微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
型号: 5600LS型
安捷伦大样品台原子力显微镜可以快速、 准确地实现针尖 定位和样品定位。 高精度的马达驱动能自动准确定位到特 定区域, 同时带有记忆功能, 可以自动迅速而准确地回到 原来每个样品表面成像的位置, 便于进行更多的深入研究。
厂家: 美国安捷伦agilent公司





薄膜厚度测量仪适用于塑料薄膜量程范围内各 种材料的精确厚度测量。薄膜等包装材料厚度 是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。 薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉 伸强度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。
型号: ST2000-DLXn
该型号薄膜厚度测量仪测量快速,操作简便, 具有非接触和非破坏性以及极好的重复性和再 现性。能基于Windows的用户友好界面进行操 作,且每个视图都有打印功能和数据保存功 能 。
厂家:韩国科美仪器(K-MAC)

拉曼光谱仪主要适用于科研院所、 高等院校物理和化
学实验室、 生物及医学领域等光学方面, 研究物质成
分的判定与确认; 该仪器以其结构简单、 操作简便、
测量快速高效准确, 以低波数测量能力著称; 采用共
焦光路设计以获得更高分辨率, 可对样品表面进行
um级的微区检测, 也可用此进行显微影像测量。
型号: invia系列0618-02
Invia系列能检测微弱信号, 快速获取数据, 能获得高
质量高分辨率的光谱, 高效的光学设计可为提供最佳
的拉曼数据, 包括微小的材料痕迹和大体积的痕迹。
厂家: 英国雷尼绍Renishaw





金相显微镜或是数码金相显微镜是将光学显微 镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术 完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品, 可以在计算机上很方便地观察金相图像,从而 对金相图谱进行分析,评级等以及对图片进行 输出、打印。
型号:XHC-SV1
XHC-SV1型数码正置金相显微镜可广泛应用 于各个高性能要求的研究观测,尤其带有微分 干涉功能,被广泛应用于太阳能电池硅片检测、 FPD、电路封装、半导体晶圆、电路基板、材
料、精密模具的检测。
厂家:北京东方华测科学技术中心


完整的低温真空探针台测试系统,广泛应用于半导体工
业(芯片、晶圆片、封装器件)、MEMS、超导、电子学、
铁电子学、物理学和 材料学等领域。
型号:ST-500
ST-500系列探针台利用液氦或液氮快速制冷,为晶片、
器件和材料(薄膜、纳米线、纳米管、石墨烯、拓扑绝
缘体、超导材料、铁电材料等)提供便利真空和低温测
试条件,先进的减振
技术保证了样品位置的稳定性。
厂家:美国Janis公司




半导体参数分析仪(器件分析仪)是一种集多种测量
和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流- 电
压(IV)和电容测量(C -V(电容 - 电压)、C-F(
电容-频率)以及 C-t(电容 - 时间)测量),并 快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导 体参数测试。
型号: B1500
精密电流电压分析仪系列的Keysight B1500A提供
了广泛的测量功能,可覆盖半导体材料和器件,有
源/无源组件或几乎任何其他类型的电子设备的电气
特性和评估,并且具有很强的测量可靠性和效率。
厂家:美国安捷伦agilent