设备名称：显微拉曼-荧光光谱-原子力探测集成系统

设备型号：inVia Raman Microscope

负责人：王芳

设备简介：显微拉曼系统是由英国Renishaw公司制造，用于半导体材料Raman特征谱分析，具有高灵敏度—挑战微弱拉曼信号；高分辨率—高空间分辨率，易于检测微痕量样品；高光谱分辨率，得到更加精细的拉曼信息。可实现拉曼、荧光的检测，强大的联用增强能力—实现AFM、SEM、CLSM等多种分析设备的联用。